蔡司三維掃描儀系統(tǒng)GOM ATOS Q復(fù)雜結(jié)構(gòu)塑料件檢測(cè)

對(duì)于塑料制品或者模具行業(yè)的質(zhì)量人員而言，往往面臨著材料多樣化、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、需要快速量產(chǎn)等挑戰(zhàn)。我們以用于模具制造的精密石墨電極掃描為例，來(lái)看一下蔡司三維掃描儀系統(tǒng)GOM ATOS Q可以幫您解決哪些問題。

案例需求：快速掃描小型高度細(xì)節(jié)化零件

GOM ATOS Q優(yōu)勢(shì)：

測(cè)頭可安裝在桌面支架上，以此滿足掃描此類高精密零件所需的穩(wěn)定性，桌面支架既可以作為手動(dòng)掃描解決方案也可搭配自動(dòng)化轉(zhuǎn)臺(tái)作半自動(dòng)掃描

每個(gè)相機(jī)間隔距離一致為490mm，通過固定的相機(jī)角度，讓用戶可以輕松快速地切換測(cè)量范圍。從較大單幅測(cè)量范圍縮小到170mm x 130mm，意味著，在這塊小小的區(qū)域上密集分布1,200萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，分辨率達(dá)30微米。

蔡司三維掃描儀ATOS Q擁有GOM三重掃描技術(shù)優(yōu)勢(shì)，測(cè)量頭可以在各個(gè)位置獲得三種視角的不同測(cè)量數(shù)據(jù)。系統(tǒng)會(huì)先看左右相機(jī)重疊掃描部分?jǐn)?shù)據(jù)，然后單獨(dú)看左側(cè)相機(jī)生成的數(shù)據(jù)，*后是右側(cè)的數(shù)據(jù)。兩邊的掃描數(shù)據(jù)互為補(bǔ)充，確保無(wú)遺漏。

通過精確校準(zhǔn)的三維相機(jī)，系統(tǒng)自動(dòng)將來(lái)自三個(gè)視角的掃描數(shù)據(jù)拼貼在一起，這使得我們能夠很容易的捕捉到那些難以深入的區(qū)域。

細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)：

在來(lái)自掃描結(jié)果的網(wǎng)格中看到，軟件自動(dòng)減少了平面區(qū)域上的點(diǎn)數(shù)量，并在曲面上，保留大量細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)，通過精密的三維掃描鏡頭，即使是電極表面*小的形狀偏差也被清晰的顯示出來(lái)。

通過三重掃描技術(shù)，測(cè)頭可以深入掃描零件狹窄深處位置

電極頂部的色彩偏差圖，在案例中，整體的偏差范圍在10微米，通過色彩圖很容易就可以判斷該電極是否達(dá)到電火花加工標(biāo)準(zhǔn)，或者需要繼續(xù)改進(jìn)。

蔡司高精度藍(lán)光掃描系統(tǒng)采用高速藍(lán)光投影技術(shù)，可以快速獲取零件表面三維數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)零件快速檢測(cè)，可以將結(jié)果及時(shí)反饋給產(chǎn)線，及時(shí)調(diào)整產(chǎn)線，降低損耗，節(jié)約成本;獨(dú)有三重掃描技術(shù)尤其針對(duì)復(fù)雜零件的，可以獲取完整全面的三維數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)全面檢測(cè)。

蔡司光學(xué)三維掃描技術(shù)可以在短短幾分鐘內(nèi)獲取零件表面的三維數(shù)據(jù)，直接導(dǎo)入預(yù)先設(shè)定的檢測(cè)模板，幾秒鐘就可以獲取零件的檢測(cè)報(bào)告，尤其對(duì)于大批量的零件檢測(cè)，尤為合適。

GOM Suite智能檢測(cè)軟件功能強(qiáng)大，彩圖分析、截面分析、厚度分析、拔模斜度分析、批量趨勢(shì)分析、個(gè)性化報(bào)告模板設(shè)置等多種功能非常適合塑料零件的快速檢測(cè)，多零件同時(shí)掃描功能更能大大提高檢測(cè)效率，節(jié)約用戶的人力及時(shí)間成本。