ZEISS DotScan用于采集自由曲面的光學(xué)式探頭

ZEISS DotScan 是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的選擇。ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面，因?yàn)閷?duì)于這類表面，探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。使用 ZEISS DotScan 時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

ZEISS DotScan特點(diǎn)

ZEISS DotScan 是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面，因?yàn)閷?duì)于這類表面，探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。

蔡司DotScan的應(yīng)用范圍包括敏感、反射或低對(duì)比度的表面。

使用 ZEISS DotScan 時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。

用途多樣靈活

ZEISS DotScan 共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測(cè)量范圍：10、3 和 1 mm。探頭可在一次 CNC 運(yùn)行期間全自動(dòng)更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學(xué)探頭。

關(guān)節(jié)軸每次可移動(dòng) 2.5 度，可將 ZEISS DotScan 調(diào)整到垂直于待測(cè)量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的測(cè)量角度是 +/- 30 度，因此更大曲率的部件也能測(cè)量。再加上探針的操作模式，使得各種材料都能毫無(wú)問(wèn)題地從各種角度進(jìn)行測(cè)量。配合使用轉(zhuǎn)臺(tái)，甚至連 4 軸的測(cè)量工作也難不倒 ZEISS DotScan。